В кадре конференции Metromeet, организованном Группой Innovalia, удалось сконцентрировать главных руководителей компаний с большим международным призванием, таких как Autodesk, General Electric, в дополнение к основным учреждениям во всем мире, таким как PTB, Университет Ноттигхам, Antwerp, CFAA, Текникер, AIMEN и MSI.
Это 16-е издание Metromeet имело инновационный контент, представляющий большой интерес, и позволило обнаружить и обсудить важность метрологии на пути к Индустрии 4.0. Открытие конференции состоялось в одном из главных залов дворца Эускальдуна, где Jesús de la Maza, президент Группы Innovalia, поделился руководящими принципами Metromeet и целями встречи.
Тони Вентура, генеральный директор Datapixel, открыл конференцию с удивительной презентациеи, в котором ведёт к производству Нулевых Дефектов благодаря метрологии и закончил свою речь размышлением «Несколько лет назад метрология присутствовала только в лабораториях, но сегодня это важнейший процесс производства, это еще одна часть процесса, включенного в него.»
16-е издание Metromeet также выделилось своим новым контентом, который вызвал большой интерес и ожидания. Дженнифер Херрон, сотрудник NIST, привезла из Колорадо (США) отличную презентацию о стандартах производства QIF. Ainhoa Etxabarri представила во второй день Metromeet «Метрология в механической обработке» спич, в котором, помимо презентации M3MH, уникального программного обеспечения для измерений, которое позволяет напрямую подключаться к ЧПУ, она представила новый способ измерения, производства и оптимизации производственных процессов.
После обсуждения таких тем, как гибридное измерение, QIF, программные решения для 3D-печати и Индустрии 4.0, круглый стол, организованный Хесусом де ла Мазой, Тони Вентурой и Дженифер Херрон, который закрывал конференцию, обсуждали темы, имеющие жизненно важное значение для развития отрасли, такие как производственные стандарты, функциональная совместимость и управление данными на фабрике будущего.
Последний день конференции состоялся на винодельне Valdemar, где участники получили инновационный контент благодаря докладчикам, таким как Рафаэль Гарсия, инженер по приложениям в MSI, участвующий в проекте R4 clio, Камило Прието из AIMEN, представил презентацию «Integración» Метрология на крупных пилотах линий аддитивного производства металлов».
В эти дни конференции Metromeet пришла к выводам об основных потребностях сектора и обсудила будущее метрологии со специалистами с различным восприятием и опытом. Через Metromeet Innovalia продолжает демонстрировать свою приверженность технологическому развитию и свою четкую позицию в качестве поставщика передовых решений в области контроля качества и улучшения производственных процессов.
See full review of the Conference
