Innovaliaグループが主催する第16回Metromeet産業計測会議では、Innovalia、Autodesk、General Electricなどの国際的な大企業の主要幹部と、PTB、ノッティガム大学、アントワープ大学、CFAA、Tekniker、AIMEN、MSIなど世界的な主要専門機関の代表者が結集しました。 、
当会議では、非常に興味深い革新的なコンテンツが盛り込まれ、Industry 4.0へ向かう過程での計測の重要性を発見し、お互いに議論を重ねました。オープニングは、エウスカルデゥナ会議場（スペイン ビルバオ市）のメイン会場で開催され、Innovalia グループの代表取締役であるJesús de la Maza氏がMetromeetのガイドラインを共有し、開会を宣言しました。
Datapixel社のCEOであるToni Ventura氏は、測定の欠陥ゼロ製造へ向けた取り組みを振り返り、非常に印象深い講演をおこないました。： 「数年前まで測定は特別な測定室でするものでしたが、今日では生産に不可欠な要素であり、生産プロセスの中の一部分となっています。」
また、多くの関心と期待を生み出した新しいコンテンツもありました。NISTのコラボレーターとして参加されたJennifer Herron氏（米国コロラド州）のQIF製造基準に関する素晴らしいプレゼンテーションに加え、Ainhoa Etxabarri氏による「マシニングにおける測定」では、CNCへの直接接続を可能にする独自の測定ソフトウェアM3MHによる生産プロセスの中での測定、生産、最適化の新な方法の紹介がありました。
ハイブリッド測定、QIF、3Dプリントソフトウェアソリューション、Industry 4.0などの様々な魅力的なコンテンツについて議論した後、Jesús de la Maza氏, Toni Ventura氏、 Jennifer Herron氏により、製造基準、相互運用性、将来のファクトリーデータ管理など産業の発展において極めて重要なトピックを盛り込んだ当会議の前半2日が締めくくられました。
最終日はバルデマールワイナリーに移動し、MSIのアプリケーションエンジニアでR4クリオプロジェクトに参加しているRafael García氏、そしてAIMENのCamilo Prieto氏による「金属積層造形製造ラインにおける計測の統合」に関するプレゼンテーションがあり、業界最先端の話に耳を傾け楽しみました。
Metromeetは、製造分野の主要なニーズについて結論を導き、異なる認識と異なる経験を持つ専門家とメトロロジーの将来について議論し合える場です。 Innovaliaはこの場を通じて、技術開発へのコミットメントを明確にし、品質管理と製造プロセスの改善分野での高度なソリューションの提供者としての地位を確立しています。
