この度、記念すべき第15回にふさわしく、PTB、ノッティガム大学、アントワープ大学、CFAA、Teknikerなど国際的な主要機関に加え、Innovalia、LMI Technologies、Autodesk、CIN Advanced Systems、Capvidia、Novo Nordisk、Zeiss、Faro、Renishawなどより国際的なプロジェクトを持つ企業の代表幹部が一堂に会しました。
Innovalia Metrology、Renishaw、CIN Advanced system、Faro、Zeiss、LMI Technologiesの協賛により実現した本会議では、非常に興味深い革新的なコンテンツを揃え、インダストリー4.0において計測の重要性を再認識し積極的な議論が交わされました。会場となったのはEuskalduna Palaceで、 Novo Nordiskの計側責任者であるLorenzo Carli氏とInnovalia Groupの会長であるJesus de la Maza氏が、当会議のガイドラインを共有し開会宣言をしました。
先ず、Datapixel社のCEOであるToni Ventura氏はカリスマ性のある講演を行い、計測による欠陥品ゼロ製造を提起し、「異なる国、企業、年齢の人々が計測学の将来を目指して団結することを可能にするのがMetromeetだ。」と本会議の重要性を強調します。
中でも、NISTの共同研究者であるRay Admire氏（アメリカ テキサス州）は、QIF製造標準を取り上げ素晴らしい講演を行い、2日目にはAinhoa Etxabarri氏がCNCに直接接続できる独自の測定ソフトウェアM3MHの発表に加えて、産業プロセスに関する測定、生産、最適化の新しい方法を「マシニング加工における計測学」という演題で提示しました。
ハイブリッド測定、QIF、3Dプリンティングおよびインダストリー4.0向けソフトウェアソリューションといった非常に魅力的な講演の数々を終え、DatapixelのCEOであるToni Ventura氏、Innovalia Groupの会長であるJesus de la Maza氏、本会議の議長を務めるLorenzo Carli氏、Prostep IVIPの最高責任者であるAlain Pfouga氏、DMSCの会長兼NISTの共同研究者であるRay Admire氏と共にMetromeetの前半2日を終了しました。本会議においては、産業の発展において、製造基準、相互運用性、未来の工場におけるデータ管理など極めて重要な問題を取り上げています。
Metromeetの最終日となる第3日目は Baigorriワイナリーに場所を移し、2016年と2017年のTTラリーチャンピオンおよびDakar 2019 Malle Motoに参加予定のSara Garc’ia氏による異なる視点からの講演や、LMI TechnologiesやCIN Advanced Systemsからの新開発技術の発表は非常に刺激的な内容でした。
異なる認識・経験を持つ多くの専門家を交え、産業界のニーズについて結論を導き、計測の将来について大いに議論することが可能な当会議を通じ、Innovaliaグループは、技術開発への取り組みと、品質管理および製造プロセスの改善における高度なソリューションの処方者としての明確な位置付けを引き続き実証してい
