Innovalia Metrologyは、BIEMH展で最新の技術開発M3Analyticsを公式発表。

Innovalia Metrologyは、来る5月３１日、BIEMH展の第 1号館ブースA33において、M3 Analyticsの公式プレゼンテーションを行います。計測データの統計分析用ソフトウェアで、生産状況を常時把握し、カスタマイズされたレポートが作成可能となりました。
Innovalia MetrologyはBIEMH展（5月28日〜6月1日）に出展し、測定プロセスと生産プロセスの最適化を可能にする様々な製品開発を可能にしたM3テクノロジーをご紹介させていただきます。異なるプロセスにM3を直接適用し、単一のワークフローでのM3の完結的な統合が可能です。
M3 Analyticsは、生産プロセスの改善を目的としたInnovalia Metrologyの最新の製品です。 ワークの測定値に基づいて生産能力を分析・改善し、生産プロセスをシンプルかつ包括的に最適化するので、ユーザーに大きな利益をもたらします。 カスタマイズされたレポートに変換されたワークの品質および統計データを正確に使用することで、生産プロセスの知識に大きく貢献し、生産エラーを未然に防ぐことができます。
他の測定パッケージからのデータを取り込み、生産プロセスで収集されたすべての情報を視覚化し、最も関心のあるパラメータを設定および分析できるため、カスタマイズ可能な汎用ソフトウェアといえます。 さらに、実用的でありながら、ワークに関連した具体的な結果を提示し、ユーザーが必要とするすべてを収集し、一目で生産の質を管理することができます。
M3 Analyticsのプレゼンテーションでは、当社のチームが、M3 Analyticsのみにかかわらず、M3テクノロジー全般にわたり、興味をお持ちの方にはリアルタイムで実演させていただきます。
Innovalia Metrologyは、BIEMHにご来場の皆様に、様々なアクティビティーや抽選会はもちろんのこと、M3 Analyticsの公式プレゼンテーションに是非ご出席頂くようお待ち申し上げております。そして、スマート計測においては、Innovaliaグループがヨーロッパのベンチマークと位置づけられておりますが、その所以となるテクノロジーについて、さらに新しい発見をしていただければ幸いです。