Innovalia グループの計測部門であるInnovalia Metrologyは、5月28日から6月1日までの5日間、BIEMH 2018展（第一ホール、ブースA33）で最新の計測ソリューションを発表しました。ネットワークの構築にも大きな成果があり、大変多くの方々にご来場いただき大好評のうちに展示会を終えることができました。
座標測定器をハードウェア・ソリューションとして紹介しただけでなく、このチャンスに、計測ソフトウェアM3をメインとして展示する環境を作り、ブース内で異なる製品ごとに異なる測定環境を提供することに成功しました。Tetracheck：わずか10分で座標測定器を検証できるより効果的なソフトウェア、 M3MH：PCから工作機械のCNCに直接接続できる工作機械用計測ソフトウェア、 M3 Hybrid：M3ソフトウェアを使用し、点を取得する2つの技術（光学センサーOptiscanによるスキャニンググと接触型プローブセンサー）を組み合わせることで、読み取りと測定のプロセスを簡素化したMMCの測定ソフトウェアです。
また、生産状態を常時把握できるようカスタマイズされたレポートのおかげで、計測情報を統計分析出来る新しいソフトウェア、M3 Analyticsを発表しました。 M3 Analyticsは、パーツの測定値に基づいて生産能力を分析し、改善し、生産プロセスをシンプルかつ完結的に最適化するので、ユーザーに大きな利益をもたらします。カスタマイズされたレポートにパーツの品質や統計が反映されるので、生産プロセスの把握に大きく寄与し、生産中のエラーを解決し、将来のエラーの予測に役立てることができます。
Innovalia Metrologyの計測ソリューションは、当展示会期間中、それぞれに注目していただく機会を与えていただきました。多くのご来場者、報道関係者の皆様には、国内外を問わず産業界において計測が占める重要性を改めて認識出来たのではないでしょうか。
Borja de la Maza, Innovalia Metrology CEO, presenting M3MH
High accuracy 3D scanning thanks to Optiscan
