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計測による欠陥品ゼロ製造

Jan 28, 2020 | アドバイス, お知らせ, ソリューション

 

 

 

 

 

 

 

 

Innovalia Metrologyでは、デジタルかつ最適化されたワークフローへの適応を促進するM3ハイブリッド光学ソリューションにより、より一層デジタル計測の進歩と課題に取り組んでいます。

生産プロセスを最適化する必要性は、企業において日に日に重要性を増しており、多大な努力の結果、品質管理は最早プロセスの一部になっていると言っても過言ではありません。今日に至るまで、品質管理に要する時間短縮に貢献する光学センサーや新しいデータ処理システムの導入といった大きな変革がありました。 Optiscanなどの光学センサーや、データ分析および保存に優れたM3ソフトウェアソリューションを組み込むことは、M3ハイブリッドのように測定プロセスの削減につながり、計測の役割を受け入れる自然な流れを促進してきました。概念的な変化だけでなく、生産ラインおよび研究室においても柔軟な方法で対象物をスキャンできる技術的な変革は当然です。さらに、数年前までは、現在ほど大容量のデータを保存・処理できるシステムが存在せず、計測が生産プロセスの付加価値の一部となるには、技術開発は不可欠でした。

Innovalia Metrologyが参加あるいは開催する見本市やイベント(Metromeet2020など)に興味をお持ちいただけましたら、www.metromeet.org のリンクより是非、参加予約をお申込みください。

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